В японском университете, группой исследователей, была представлена новая разработка в области твердотельных накопителей. Данные по исследованию показывают, что за счет изменения и сжатия данных в способе записи можно получить существенное повышение надежности накопителей, скомпенсировав это уменьшением кол-ва записи-стирания циклов и увеличив время хранения.
Суть этой разработки заключается в сумме двух приемов.
- По алгоритму Хаффмана производится сжатие данных в контроллере, за счет этого уменьшается общий объем записываемых данных.
- Часто встречающиеся последовательности (короткие коды) записываются в высоконадежные стояния памяти, длинные коды(редко встречающиеся) записываются обычным способом.
Высоконадежное состояние достигается с использованием ячеек TLC, обычно принимающей 1-но из 8-ми состояний, для хранения 1-го из 7-ми значений (в некоторых случаях 6-ти). Конечно, при таком способе уменьшается информационная емкость, но за счет увеличения шага напряжения между состояниями увеличивает время хранения и надежность!
